material measure with the surface topography, that consists of a limited range of wavelength components, the surface periodicity or unit sampling area defined, and marked to identify X and Y axes in order to align them with the coordinate system of the instrument, pinnatopograafiaga materiaalmõõt, mis koosneb piiratud vahemikust lainepikkuse komponentidest, pinna perioodilisusest või proovivõtu piirkonnast, mis on määratletud ja tähistatud X- ja Y-telgede identifitseerimiseks, et neid pinnatopograafia mõõtevahendi koordinaatsüsteemiga joondada