Если вы хотите получить ответ по электронной почте, пожалуйста, оставьте свой адрес.
Спасибо, мы получили ваш отзыв.
closeness of agreement between successive measurements of the same surface topography under the same conditions of measurement, sama pinna topograafia järjestikustel mõõtmistel saadud mõõdiste kokkulangevus samades mõõtetingimustes
