pinna skaneerimismeetod, mispõhineb väga suure lahutusvõimega skaneerival mikroskoobil, mis pinda skaneerides terava otsakuga annab pinna kolmemõõtmelise elektroonse kujutise (vt teravikmikroskoopia), a mechanical profiling method that generates three-dimentional maps of surfaces by scanning an atomically sharp probe attached to a cantilever over a surface (see: scanning probe microscopy)
a method of authentication that requires at least two different authentication factors; typically something you know (username/password) and something that you have (a token or cell-phone) or something that you are (a biometric), autentimine mitme eri tüüpi identsustõendiga - näiteks kiipkaardi, parooli ja biomeetrikuga
AFM . Lennunduse terminibaas. Институт эстонского языка, Сынавееб 2026. https://sonaveeb.ee/search/unif//len/AFM/1/eng (15.11.2026)
AFM . Materjalitehnika terminibaas. Институт эстонского языка, Сынавееб 2026. https://sonaveeb.ee/search/unif//mtr/AFM/1/eng (15.11.2026)
AFM . Materjalitehnika terminibaas. Институт эстонского языка, Сынавееб 2026. https://sonaveeb.ee/search/unif//mtr/AFM/1/eng (15.11.2026)