et

Svd

1 tähis

Erialasõnastikud

Metroloogia terminibaas

ID 1157742 Viimati muudetud 16.05.2026
Vaata sõnakogu
Vaata sõnakogu
Valdkond standardimine, metroloogiameasuring procedures
  • süvendi tunnusparameeter, milleks on süvendite arv pindalaühiku kohta
  • süvendi tunnusparameeter, milleks on süvendite arv pikkusühiku kohta
  • pits feature parameter that is the number of pits per unit area
  • pits feature parameter that is the number of pits per unit length
süvenditihedus eelistatud
Näited
  • Süvenditihedus on mõõtesuurus, mis võimaldab mõõta pooljuhtplaatide või kristallaluste pinnasüvendite/pooride/defektide arvu pindalaühiku kohta, mis on kasutusel plaadi kvaliteedi ja jõudluse hindamisel, kusjuures madalam tihedus näitab kõrgemat pooljuhtplaadi kvaliteeti.
Svd tähis
Pvd, Wvd, Rvd tähis
density of pits
Näited
  • Density of pits measures the number of surface pits/dales/dislocations per unit area or unit length on semiconductor wafers or crystal substrates, used to assess material quality and with lower density indicating higher crystal quality. Density of pits is foundational for assessing material wear, corrosion susceptibility, and fluid retention in engineering and tribology.
Svd tähis
Pvd, Wvd, Rvd tähis

Sõnavormid puuduvad

Päritolu andmed puuduvad

Sõna seosed puuduvad

Otsin lisanäiteid...
Otsin tõlgitud näiteid...