Kujutis on pinnametroloogia tehnika, mis analüüsib pinnaprofiile, jagades need kujutisteks, nt tipp, org-tipp või muud segmendid, et eraldada nt karedus lainelisusest traditsioonilise filtreerimiseta. Kujutis võimaldab hinnata profiili funktsionaalseid omadusi, nt tööriistajälgi profiili kõrgeimate punktide põhjal.
Motif is a surface metrology technique that analyzes surface profiles by breaking them into "motifs" (peak-valley-peak segments) to separate roughness from waviness without traditional filtering, and evaluates the functional characteristics of a profile.
