spatial period of a sinusoidal profile at which the height response of the instrument transfer function falls to 50 %, siiinuselise profiili ruumiline periood, mille puhul mõõtevahendi ülekandeseose kõrguskarakteristik langeb 50 %-ni
spatial period of a sinusoidal profile at which the height response of the instrument transfer function falls to 50 %, siiinuselise profiili ruumiline periood, mille puhul mõõtevahendi ülekandeseose kõrguskarakteristik langeb 50 %-ni
DLIM . Metroloogia terminibaas. Институт эстонского языка, Сынавееб 2026. https://127.0.0.1:5577/search/unif//mea/DLIM/1/est (09.10.2026)